講座名稱(chēng)：EDA概論和前沿技術(shù)洞察

講座人：黃宇

講座時(shí)間：5月31日14:00

地點(diǎn)：北校區(qū)東大樓221報(bào)告廳

講座人介紹：

黃宇博士，華為海思半導(dǎo)體EDA首席架構(gòu)師、科學(xué)家，西安電子科技大學(xué)兼職教授。之前曾任美國(guó)Mentor Graphics Sr. Key Expert。擁有在美國(guó)EDA領(lǐng)域工作20年的經(jīng)驗(yàn)。他的研究領(lǐng)域包括大規(guī)模集成電路的測(cè)試、壓縮、診斷、良率分析等。參與發(fā)明70項(xiàng)國(guó)際、美國(guó)、中國(guó)專(zhuān)利，并發(fā)表了超過(guò)140篇國(guó)際論文。他是IEEE高級(jí)會(huì)員，也是DAC 2021，2022年Test & Reliability Track Co-Chair、Chair, 曾出任ITC, VTS, ATS, ETS, ASPDAC, NATW 等多個(gè)國(guó)際會(huì)議的組委會(huì)委員。受邀作為ETS 2022的Keynote Speaker。

講座內(nèi)容：

本課程首先介紹EDA發(fā)展的歷史，現(xiàn)狀和未來(lái)以及EDA的工具鏈在芯片設(shè)計(jì)制造中的各個(gè)環(huán)節(jié)所起到的作用。通過(guò)展示EDA全景圖，我們將看到在工藝器件仿真，設(shè)計(jì)綜合驗(yàn)證，物理實(shí)現(xiàn)流程，生產(chǎn)制造測(cè)試和良率缺陷分析等各階段EDA工具的功能及其背后實(shí)現(xiàn)的基礎(chǔ)。在此基礎(chǔ)上，將介紹現(xiàn)代EDA前沿關(guān)鍵技術(shù)和相關(guān)進(jìn)展，尤其將討論AI與EDA結(jié)合最新工作，研討AI與EDA中成功與不足的實(shí)踐案例。

主辦單位：微電子學(xué)院