講座名稱：建院20周年系列學(xué)術(shù)活動(dòng) | “芯”光研途 | EDA產(chǎn)教融合洞察學(xué)術(shù)報(bào)告會(huì)

講座人：黃宇

講座時(shí)間：3月24日11:20

地點(diǎn)：北校區(qū)東大樓221會(huì)議室

講座人介紹：

黃宇博士現(xiàn)任華為半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域科學(xué)家、海思EDA首席架構(gòu)師、EDA實(shí)驗(yàn)室主任。之前曾任美國(guó)三大EDA公司之一的西門子EDA（原Mentor Graphics Co.）的Sr. Key Expert（高級(jí)關(guān)鍵技術(shù)專家），擁有在美國(guó)EDA領(lǐng)域工作的20余年經(jīng)驗(yàn)。他的研究領(lǐng)域包括大規(guī)模集成電路的測(cè)試，壓縮，診斷，良率分析等，參與發(fā)明70余項(xiàng)包括美國(guó)、中國(guó)等國(guó)際國(guó)內(nèi)的專利，發(fā)表了超過(guò)140篇國(guó)際論文，并于2021年被聘為復(fù)旦大學(xué)的客座教授和企業(yè)兼職博導(dǎo)。他是IEEE高級(jí)會(huì)員，也是DAC 2021，2022年Test & Reliability Track Co-Chair、Chair, 曾出任ITC, VTS, ATS, ETS, ASPDAC, NATW 等多個(gè)國(guó)際會(huì)議的組委會(huì)委員。

講座內(nèi)容：

分析國(guó)際上EDA產(chǎn)教融合的歷史與經(jīng)驗(yàn)，以及學(xué)術(shù)傳承脈絡(luò)；結(jié)合國(guó)內(nèi)的EDA的形勢(shì)，探討國(guó)內(nèi)EDA產(chǎn)教融合的趨勢(shì)。

主辦單位：微電子學(xué)院