講座名稱：Breaking the bounds of imaging in label-free nanoscopy, micro-endoscopy and ophthalmology

講座時(shí)間：2020-06-11 14:00

講座人：Zeev Zalevsky

講座地點(diǎn)：線上：Zoom會(huì)議平臺(tái)（9077458024）；線下：北校區(qū)西大樓412會(huì)議室

講座人介紹：

Zeev Zalevsky分別于1993年和1996年在特拉維夫大學(xué)電氣工程專業(yè)獲得了學(xué)士和博士學(xué)位學(xué)位，目前是以色列Bar-Ilan大學(xué)工程學(xué)院教授。他的主要研究領(lǐng)域包括光學(xué)超分辨，生物醫(yī)學(xué)光學(xué)，納米光子學(xué)和電光設(shè)備。 Zeev發(fā)表了500多篇同行評(píng)審論文和300多篇會(huì)議論文，作了600多次國際會(huì)議演講，其中200多次是邀請(qǐng)報(bào)告或全體大會(huì)報(bào)告。他擁有100多項(xiàng)授權(quán)專利，編寫了6本書，編輯了3本書，寫了30本書的章節(jié)。他是OSA、SPIE、EOS、IET、IOP、IS＆T等許多專業(yè)協(xié)會(huì)的fellow，美國國家發(fā)明家學(xué)會(huì)（NAI）的fellow。他獲得了許多國家和國際獎(jiǎng)項(xiàng)，如Krill prize, ICO prize, Juludan prize, NANOSMAT prize, Lean and Maria Taubenblatt prize, nanotechnology prize, SAOT prize, Image Engineering Innovation Award等。

講座內(nèi)容：

提出一種超越衍射極限分辨率和聚焦深度的光子學(xué)方法和手段，并將其應(yīng)用于內(nèi)窺技術(shù)、顯微系統(tǒng)以及眼科設(shè)備。

主辦單位：物理與光電工程學(xué)院